Scanning probe microscopy and spectroscopy

Peter Liljeroth, Bruno Grandidier*, Christophe Delerue, Daniël Vanmaekelbergh

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaChapterScientificvertaisarvioitu

1 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

This chapter shows how scanning tunneling microscopy and spectroscopy and atomic force microscopy can be used to measure the properties of individual nanocrystals, thereby circumventing the limitations of ensemble based measurements.

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoNanoparticles: Workhorses of Nanoscience
KustantajaSpringer-Verlag Berlin Heidelberg
Sivut223-255
Sivumäärä33
ISBN (elektroninen)9783662448236
ISBN (painettu)366244822X, 9783662448229
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 1 syyskuuta 2014
OKM-julkaisutyyppiA3 Kirjan osa tai toinen tutkimuskirja

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Scanning probe microscopy and spectroscopy'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä