SAW Device Analysis Using a Combination of FEM/BEM Calculations and Scanning Interferometer Measurements

S. Chamaly; R. Lardat; T. Pastureaud; P. Dufilie; W. Steichen; O. Holmgren; M. Kuitunen; J.V. Knuuttila; M.M. Salomaa

SAW Device Analysis Using a Combination of FEM/BEM Calculations and Scanning Interferometer Measurements

S. Chamaly, R. Lardat, T. Pastureaud, P. Dufilie, W. Steichen, O. Holmgren, M. Kuitunen, J.V. Knuuttila, M.M. Salomaa

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference contribution › Scientific › vertaisarvioitu

5 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Otsikko	2003 IEEE Ultrasonics Symposium, Hawaiji lokakuu 2003
Sivut	294
Tila	Julkaistu - 2003
OKM-julkaisutyyppi	A4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

OpenUrl-saatavuus

Koko teksti

Siteeraa tätä

@inproceedings{1381f93b3ab445058c6f565fe54b48af,

title = "SAW Device Analysis Using a Combination of FEM/BEM Calculations and Scanning Interferometer Measurements",

author = "S. Chamaly and R. Lardat and T. Pastureaud and P. Dufilie and W. Steichen and O. Holmgren and M. Kuitunen and J.V. Knuuttila and M.M. Salomaa",

year = "2003",

language = "English",

pages = "294",

booktitle = "2003 IEEE Ultrasonics Symposium, Hawaiji lokakuu 2003",

}

TY - GEN

T1 - SAW Device Analysis Using a Combination of FEM/BEM Calculations and Scanning Interferometer Measurements

AU - Chamaly, S.

AU - Lardat, R.

AU - Pastureaud, T.

AU - Dufilie, P.

AU - Steichen, W.

AU - Holmgren, O.

AU - Kuitunen, M.

AU - Knuuttila, J.V.

AU - Salomaa, M.M.

PY - 2003

Y1 - 2003

M3 - Conference contribution

SP - 294

BT - 2003 IEEE Ultrasonics Symposium, Hawaiji lokakuu 2003

ER -