Sample Corrugation Affects the Apparent Bond Lengths in Atomic Force Microscopy

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut3006-3014
JulkaisuACS Nano
Vuosikerta8
Numero3
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • atomic force microscopy, bond length, corrugation, graphene, tip relaxation

ID: 812009