Sample Corrugation Affects the Apparent Bond Lengths in Atomic Force Microscopy

Mark P. Boneschanscher, Sampsa K. Hämäläinen, Peter Liljeroth, Ingmar Swart

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

54 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut3006-3014
JulkaisuACS Nano
Vuosikerta8
Numero3
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • atomic force microscopy
  • bond length
  • corrugation
  • graphene
  • tip relaxation

Siteeraa tätä