Role of native metal oxide layer on emitted metal L line in low-voltage electron-probe microanalysis

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

2 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	21-24
Julkaisu	Materials at High Temperatures
Vuosikerta	26
Numero	1
Tila	Julkaistu - 2009
OKM-julkaisutyyppi	A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Siteeraa tätä

@article{c28726ca121b41d0857b28fbb97f9ccf,

title = "Role of native metal oxide layer on emitted metal L line in low-voltage electron-probe microanalysis",

author = "E. Heikinheimo and X. Llovet",

year = "2009",

language = "English",

volume = "26",

pages = "21--24",

journal = "Materials at High Temperatures",

issn = "0960-3409",

publisher = "Taylor \& Francis",

number = "1",

}