Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Role of copper in light induced minority-carrier lifetime degradation of silicon

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    54 Sitaatiot (Scopus)
    58 Lataukset (Pure)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut152111
    JulkaisuApplied Physics Letters
    Vuosikerta95
    Numero15
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2009
    OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

    Tutkimusalat

    • Copper contamination
    • Crystalline silicon materials
    • Degradation effect
    • Minority carrier lifetimes

    Siteeraa tätä