Reducing the Effect of Parasitic Capacitance on MEMS Measurements

P. Rantakari, Jyrki Kiihamäki, Mika Koskenvuori, T. Lamminmäki, I. Tittonen

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut1556-1559
    TilaJulkaistu - 2001
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

    Julkaisusarja

    NimiTransducers '01, Eurosensors XV, Munich, Germany, June 10-14, 2001

    Tutkimusalat

    • differential amplifier
    • miceomechanical resonator
    • parasitic capasitance

    Siteeraa tätä