Recent Trends in Surface Characterization and Chemistry with High-Resolution Scanning Force Methods,

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

  • Clemens Barth
  • Adam Foster

  • Claude R. Henry
  • Alexander L. Shluger

Organisaatiot

  • CNRS
  • University College London
  • Tohoku University
  • Tampere University of Technology

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut477-501
Sivumäärä25
JulkaisuAdvanced Materials
Vuosikerta23
Numero4
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • AFM

ID: 711882