Recent Trends in Surface Characterization and Chemistry with High-Resolution Scanning Force Methods,

Clemens Barth, Adam S. Foster, Claude R. Henry, Alexander L. Shluger

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

177 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut477-501
Sivumäärä25
JulkaisuAdvanced Materials
Vuosikerta23
Numero4
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • AFM

Siteeraa tätä