Quantitative modelling in scanning probe microscopy

A. S. Foster*, W. A. Hofer, A. L. Shluger

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliReview ArticleScientificvertaisarvioitu

12 Sitaatiot (Scopus)

Abstrakti

Significant progress has been made in the theoretical modelling of scanning probe microscopy. The models available now are sufficiently refined to provide information not only about the surface, but also the probe tip, and the physical changes occurring during the scanning process. This has significantly improved the quantitative analysis of experimental and theoretical results. Scanning probe microscopes can now be reliably used to analyse events on the level of single atoms and single electrons.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut427-434
Sivumäärä8
JulkaisuCURRENT OPINION IN SOLID STATE AND MATERIALS SCIENCE
Vuosikerta5
Numero5
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2001
OKM-julkaisutyyppiA2 Arvio tiedejulkaisuussa (artikkeli)

Sormenjälki Sukella tutkimusaiheisiin 'Quantitative modelling in scanning probe microscopy'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä