Quantitative modelling in Scanning Force Microscopy on Insulators

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

  • University College London

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut306–318
Sivumäärä13
JulkaisuApplied Surface Science
Vuosikerta188
Numero3-4
TilaJulkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • CaF2, Calcite, Modelling, NC-AFM

ID: 3457542