Quantitative modelling in Scanning Force Microscopy on Insulators

Adam S. Foster, Alexander L. Shluger, Risto M. Nieminen

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

19 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut306–318
Sivumäärä13
JulkaisuApplied Surface Science
Vuosikerta188
Numero3-4
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2002
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Tutkimusalat

  • CaF2
  • Calcite
  • Modelling
  • NC-AFM

Siteeraa tätä