Quantitative analyses of the O K-edge, Cu L2.3-edge and Ce M4.5-edge XANES spectra for hole-doped (La1-xSrx)2CuO4+d and electron-doped (Nd1-xCex)2CuO4+d high-quality samples

Y. Tanaka, M. Karppinen, J.M. Chen, R.S. Liu, H. Yamauchi

    Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference contributionScientificvertaisarvioitu

    AlkuperäiskieliEnglanti
    OtsikkoPhysical Society of Japan, 63rd Annual meeting, Kinki University, Osaka, Japan, March 23-26, 2008: No. 23pWQ-2
    TilaJulkaistu - 2008
    OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisuussa

    Siteeraa tätä