Quantification of antimony depth profiles in Sb-doped tin dioxide thin films

S. Lehto, R. Lappalainen, H. Viirola, L. Niinistö

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    11 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut129-134
    JulkaisuFresenius' Journal of Analytical Chemistry
    Vuosikerta355
    TilaJulkaistu - 1996
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

    • ale
    • antimony
    • atomic layer epitaxy
    • sims
    • tin dioxide

    Siteeraa tätä