Abstrakti
SNOM technique used in THz range demonstrates enhanced scattering in far-field region and increased resolution of the scanned image. We develop a rigorous numerical model which can properly describe both these phenomena.
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Julkaisu | Optics InfoBase Conference Papers |
DOI - pysyväislinkit | |
Tila | Julkaistu - 1 jouluk. 2010 |
OKM-julkaisutyyppi | A4 Artikkeli konferenssijulkaisussa |