Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

Pulsed and transient measurement setups for THz Schottky diode characterization

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Conference article in proceedings › Scientific

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoXXXIII Finnish URSI Convention on Radio Science and SMARAD Seminar, Espoo, Finland, April 24-25, 2013
ToimittajatHenrik Wallén, Ari Sihvola
JulkaisupaikkaEspoo, Finland
Sivut125-127
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiB3 Vertaisarvioimaton artikkeli konferenssijulkaisussa

Siteeraa tätä