Application of stochastic Galerkin FEM to the complete electrode model of electrical impedance tomography

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut181-200
JulkaisuJournal of Computational Physics
Vuosikerta269
Numero1
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • complete electrode model, electrical impedance tomography, elliptic stochastic PDE, log-normal random fields

ID: 859927