Application of stochastic Galerkin FEM to the complete electrode model of electrical impedance tomography

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut181-200
JulkaisuJournal of Computational Physics
Vuosikerta269
Lehden numero1
TilaJulkaistu - 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkijat

Organisaatiot

    Tutkimusalat

  • complete electrode model, electrical impedance tomography, elliptic stochastic PDE, log-normal random fields

ID: 859927