Detecting stochastic inclusions in electrical impedance tomography

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

  • University of Stuttgart
  • Goethe University Frankfurt

Kuvaus

This work considers the inclusion detection problem of electrical impedance tomography with stochastic conductivities. It is shown that a conductivity anomaly with a random conductivity can be identified by applying the factorization method or the monotonicity method to the mean value of the corresponding Neumann-to-Dirichlet map provided that the anomaly has high enough contrast in the sense of expectation. The theoretical results are complemented by numerical examples in two spatial dimensions.

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli115012
Sivut1-18
JulkaisuInverse Problems
Vuosikerta33
Numero11
TilaJulkaistu - lokakuuta 2017
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

ID: 16783987