Stochastic Galerkin finite element method with local conductivity basis for electrical impedance tomography

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut998-1019
JulkaisuSIAM/ASA Journal on Uncertainty Quantification
Vuosikerta3
Numero1
TilaJulkaistu - 2015
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

ID: 2024394