Convex source support and its application to electric impedance tomography

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut364-378
JulkaisuSIAM JOURNAL ON IMAGING SCIENCES
Vuosikerta1
Numero4
TilaJulkaistu - 2008
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

ID: 3358586