Complete electrode model of electrical impedance tomography: Approximation properties and characterization of inclusions

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut902-931
JulkaisuSIAM Journal on Applied Mathematics
Vuosikerta64
TilaJulkaistu - 2004
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

ID: 3605589