A note on analyticity properties of far field patterns

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut491-498
JulkaisuInverse Problems and Imaging
Vuosikerta7
Numero2
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • far field pattern, analytic functions, inverse, scattering, partial data

ID: 786701