Probing structure and microstructure of epitaxial Ni-Mn-Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu

14 Sitaatiot (Scopus)

Alkuperäiskieli	Englanti
Sivut	6665-6671
Sivumäärä	7
Julkaisu	Acta Materialia
Vuosikerta	58
Numero	20
DOI - pysyväislinkit	https://doi.org/10.1016/j.actamat.2010.08.029
Tila	Julkaistu - jouluk. 2010
OKM-julkaisutyyppi	A1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Pääsy asiakirjaan

@article{7c99af68078d407db1f5339905ec0d8e,

title = "Probing structure and microstructure of epitaxial Ni-Mn-Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements",

author = "Yanling Ge and Oleg Heczko and Simo-Pekka Hannula and Sebastian F{\"a}hler",

year = "2010",

month = dec,

doi = "10.1016/j.actamat.2010.08.029",

language = "English",

volume = "58",

pages = "6665--6671",

journal = "Acta Materialia",

issn = "1359-6454",

publisher = "Elsevier",

number = "20",

}

TY - JOUR

T1 - Probing structure and microstructure of epitaxial Ni-Mn-Ga films by reciprocal space mapping and pole figure measurements

AU - Ge, Yanling

AU - Heczko, Oleg

AU - Hannula, Simo-Pekka

AU - Fähler, Sebastian

PY - 2010/12

Y1 - 2010/12

U2 - 10.1016/j.actamat.2010.08.029

DO - 10.1016/j.actamat.2010.08.029

M3 - Article

SN - 1359-6454

VL - 58

SP - 6665

EP - 6671

JO - Acta Materialia

JF - Acta Materialia

IS - 20

ER -