Preface to Special Topic: Defects in Semiconductors

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli181301
Sivumäärä1
JulkaisuJournal of Applied Physics
Vuosikerta119
Numero18
TilaJulkaistu - 14 toukokuuta 2016
OKM-julkaisutyyppiB1 Artikkeli tiedelehdessä

Lataa tilasto

Ei tietoja saatavilla

ID: 4837880