Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Tila | Julkaistu - 2015 |
OKM-julkaisutyyppi | Ei oikeutettu |
Tapahtuma | International Conference on Defects in Semiconductors - Espoo, Suomi Kesto: 27 heinäk. 2015 → 31 heinäk. 2015 Konferenssinumero: 28 |
Conference
Conference | International Conference on Defects in Semiconductors |
---|---|
Lyhennettä | ICDS |
Maa/Alue | Suomi |
Kaupunki | Espoo |
Ajanjakso | 27/07/2015 → 31/07/2015 |