Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

(poster) Modification of chemical oxide passivation of silicon by ultrahigh-vacuum low-temperature treatments

  • Zahra Jahanshah Rad*
  • , Kexun Chen
  • , Juha Pekka Lehtiö
  • , Iris Mack
  • , Esa Vuorinen
  • , Ville Vähänissi
  • , Mikhail Kuzmin
  • , M.P.J. Punkkinen
  • , Pekka Laukkanen
  • , Hele Savin
  • , Kalevi Kokko
  • *Tämän työn vastaava kirjoittaja
  • University of Turku

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 17 jouluk. 2020
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaIEEE Semiconductor Interface Specialists Conference - Virtual, Online, Virtual, Online, Yhdysvallat
Kesto: 16 jouluk. 202018 jouluk. 2020
Konferenssinumero: 51
https://www.ieeesisc.org/

Conference

ConferenceIEEE Semiconductor Interface Specialists Conference
LyhennettäIEEE SISC
Maa/AlueYhdysvallat
KaupunkiVirtual, Online
Ajanjakso16/12/202018/12/2020
www-osoite

Siteeraa tätä