(poster) Light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon: Mathematical model and effects of annealing

Henri Vahlman; Antti Haarahiltunen; Wolfram Kwapil; Jonas Schön; Marko Yli-Koski; Alessandro Inglese; Chiara Modanese; Hele Savin

(poster) Light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon: Mathematical model and effects of annealing

Henri Vahlman^*
, Antti Haarahiltunen
, Wolfram Kwapil
, Jonas Schön
, Marko Yli-Koski
, Alessandro Inglese
, Chiara Modanese
, Hele Savin

^*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Fraunhofer Institute for Solar Energy Systems

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	Englanti
Tila	Julkaistu - 2017
OKM-julkaisutyyppi	Ei sovellu
Tapahtuma	International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics - Freiburg, Germany, Freiburg, Saksa Kesto: 3 huhtik. 2017 → 5 huhtik. 2017 Konferenssinumero: 7 http://siliconpv.com/home.html

Conference

Conference	International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics
Lyhennettä	SiliconPV 2017
Maa/Alue	Saksa
Kaupunki	Freiburg
Ajanjakso	03/04/2017 → 05/04/2017
www-osoite	http://siliconpv.com/home.html

YK:n kestävän kehityksen tavoitteet

Tämä tuotos edistää seuraavia kestävän kehityksen tavoitteita:

SDG 7 – Edullinen ja puhdas energia

Siteeraa tätä

@conference{85cbf4e3e07c4b4997e45f7247f1c595,

title = "(poster) Light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon: Mathematical model and effects of annealing",

keywords = "Cu, LID, precipitate, recovery, silicon",

author = "Henri Vahlman and Antti Haarahiltunen and Wolfram Kwapil and Jonas Sch{\"o}n and Marko Yli-Koski and Alessandro Inglese and Chiara Modanese and Hele Savin",

year = "2017",

language = "English",

note = "International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics, SiliconPV 2017 ; Conference date: 03-04-2017 Through 05-04-2017",

url = "http://siliconpv.com/home.html",

}

(poster) Light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon: Mathematical model and effects of annealing. / Vahlman, Henri; Haarahiltunen, Antti; Kwapil, Wolfram et al.
2017. Abstraktin lähde: International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics, Freiburg, Saksa.

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu

TY - CONF

T1 - (poster) Light-induced degradation due to Cu precipitation in p-type silicon: Mathematical model and effects of annealing

AU - Vahlman, Henri

AU - Haarahiltunen, Antti

AU - Kwapil, Wolfram

AU - Schön, Jonas

AU - Yli-Koski, Marko

AU - Inglese, Alessandro

AU - Modanese, Chiara

AU - Savin, Hele

N1 - Conference code: 7

PY - 2017

Y1 - 2017

KW - Cu

KW - LID

KW - precipitate

KW - recovery

KW - silicon

M3 - Abstract

T2 - International Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics

Y2 - 3 April 2017 through 5 April 2017

ER -