Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

(poster) Evaluation of Effective Carrier Lifetime in Epitaxial Silicon Layers

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2001
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaConference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - Catania, Italia
Kesto: 30 syysk. 20015 lokak. 2001
Konferenssinumero: 9th

Conference

ConferenceConference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
LyhennettäGADEST
Maa/AlueItalia
KaupunkiCatania
Ajanjakso30/09/200105/10/2001

Siteeraa tätä