(poster) Electric Field Distribution in Black Silicon Needles Under Reverse Bias: A TCAD Simulation Study

^*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	Englanti
Tila	Julkaistu - 2026
OKM-julkaisutyyppi	Ei sovellu
Tapahtuma	Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - Venice, Italia Kesto: 27 syysk. 2026 → 2 lokak. 2026 Konferenssinumero: 21

Conference	Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
Lyhennettä	GADEST
Maa/Alue	Italia
Kaupunki	Venice
Ajanjakso	27/09/2026 → 02/10/2026

OtaNano
Rissanen, A. (Manager)
Aalto-yliopisto
Laitteistot/tilat: Facility
OtaNano Nanofab
Repo, P. (Manager) & Rissanen, A. (Other)
OtaNano
Laitteistot/tilat: Facility

Siteeraa tätä

@conference{1f4d4071399844c7bfe3738948fa2d35,

title = "(poster) Electric Field Distribution in Black Silicon Needles Under Reverse Bias: A TCAD Simulation Study",

author = "Oskari Leivisk{\"a} and Olli Set{\"a}l{\"a} and Ville V{\"a}h{\"a}nissi and Hele Savin",

year = "2026",

language = "English",

note = "Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, GADEST ; Conference date: 27-09-2026 Through 02-10-2026",

}

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu

TY - CONF

T1 - (poster) Electric Field Distribution in Black Silicon Needles Under Reverse Bias: A TCAD Simulation Study

AU - Leiviskä, Oskari

AU - Setälä, Olli

AU - Vähänissi, Ville

AU - Savin, Hele

N1 - Conference code: 21

PY - 2026

Y1 - 2026

M3 - Abstract

T2 - Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology

Y2 - 27 September 2026 through 2 October 2026

ER -