(poster) Copper-Related Light Induced Degradation Activated by Firing

N. Nampalli, H. S. Laine, J. Colwell, V. Vähänissi, A. Inglese, C. Modanese, H. Vahlman, M. Yli-Koski, H. Savin*

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2018
OKM-julkaisutyyppiEi oikeutettu
TapahtumaInternational Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics - Lausanne, Sveitsi
Kesto: 18 maalisk. 201821 maalisk. 2018
Konferenssinumero: 8th

Conference

ConferenceInternational Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics
LyhennettäSiliconPV
Maa/AlueSveitsi
KaupunkiLausanne
Ajanjakso18/03/201821/03/2018

Siteeraa tätä