Pion induced displacement damage in silicon devices

M. Huhtinen, P. Aarnio

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

66 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut580-582
JulkaisuNuclear Instruments and Methods in Physics Research A
Vuosikerta335
TilaJulkaistu - 1993
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • pion
  • radiation damage
  • semiconductors

Siteeraa tätä