Performance and Properties of Ultra-Thin Silicon Nitride X-ray Windows

Pekka T. Törmä, Jari Kostamo, Heikki Sipilä, Marco Mattila, Pasi Kostamo, Esa Kostamo, Harri Lipsanen, Christian Laubis, Frank Scholze, Nick Nelms, Brian Shortt, Marcos Bavdaz

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

9 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut695-699
Sivumäärä5
JulkaisuIEEE Transactions on Nuclear Science
Vuosikerta61
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - tammikuuta 2014
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Siteeraa tätä