(oral talk) Vertically integrated modeling of light-induced defects: Process modeling, degradation kinetics and device impact

Hannu S. Laine, Henri Vahlman, Antti Haarahiltunen, Mallory A. Jensen, Chiara Modanese, Matthias Wagner, Franziska Wolny, Tonio Buonassisi, Hele Savin*

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2018
OKM-julkaisutyyppiEi oikeutettu
TapahtumaInternational Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics - Lausanne, Sveitsi
Kesto: 18 maalisk. 201821 maalisk. 2018
Konferenssinumero: 8th

Conference

ConferenceInternational Conference on Crystalline Silicon Photovoltaics
LyhennettäSiliconPV
Maa/AlueSveitsi
KaupunkiLausanne
Ajanjakso18/03/201821/03/2018

Siteeraa tätä