Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

(oral talk) Reducing light-induced degradation in multi-crystalline silicon

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2013
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaConference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - Oxford, Iso-Britannia
Kesto: 22 heinäk. 201327 heinäk. 2013
Konferenssinumero: 15

Conference

ConferenceConference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
LyhennettäGADEST
Maa/AlueIso-Britannia
KaupunkiOxford
Ajanjakso22/07/201327/07/2013

Siteeraa tätä