(oral talk) Record-high UV response in implanted junctions through passivation of surface defects and minimisation of boron implantation damage

Kexun Chen*, Olli Setälä, Behrad Radfar, Udo Kroth, Ville Vähänissi, Hele Savin

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2022
OKM-julkaisutyyppiEi oikeutettu
TapahtumaRecord-high UV response in implanted junctions through passivation of surface defects and minimisation of boron implantation damage - Mondsee, Itävalta
Kesto: 14 syysk. 202214 syysk. 2022

Conference

ConferenceRecord-high UV response in implanted junctions through passivation of surface defects and minimisation of boron implantation damage
Maa/AlueItävalta
KaupunkiMondsee
Ajanjakso14/09/202214/09/2022

Siteeraa tätä