Siirry päänavigointiin Siirry hakuun Siirry pääsisältöön

(oral talk) High resolution imaging of light-activated copper impurities in multicrystalline silicon wafers by photoluminescence

  • Chiara Modanese
  • , Alessandro Inglese
  • , Alessia Focareta
  • , Florian Schindler
  • , Jonas Schön
  • , Martin C. Schubert
  • , Hele Savin

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaAbstractScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
TilaJulkaistu - 2017
OKM-julkaisutyyppiEi sovellu
TapahtumaALTECH EMRS Symposium: Analytical techniques for precise characterization of nano materials - Strasbourg, Ranska
Kesto: 22 toukok. 201726 toukok. 2017

Conference

ConferenceALTECH EMRS Symposium
Maa/AlueRanska
KaupunkiStrasbourg
Ajanjakso22/05/201726/05/2017

Siteeraa tätä