| Alkuperäiskieli | Englanti |
|---|---|
| Tila | Julkaistu - 2007 |
| OKM-julkaisutyyppi | Ei sovellu |
| Tapahtuma | International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics of Semiconductors - Berlin, Saksa Kesto: 3 syysk. 2007 → 7 syysk. 2007 Konferenssinumero: 11 |
Conference
| Conference | International Conference on Defects Recognition, Imaging and Physics of Semiconductors |
|---|---|
| Lyhennettä | DRIP |
| Maa/Alue | Saksa |
| Kaupunki | Berlin |
| Ajanjakso | 03/09/2007 → 07/09/2007 |
Tutkimusalat
- boron
- gettering
- iron
- silicon
Siteeraa tätä
- APA
- Author
- BIBTEX
- Harvard
- Standard
- RIS
- Vancouver