(oral talk) Characterization of electrically active defects in CZ-Si by photoluminescence imaging

Hele Savin^*, Katja Mustonen

^*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussa › Abstract › Scientific › vertaisarvioitu

Alkuperäiskieli	Englanti
Tila	Julkaistu - 12 syysk. 2024
OKM-julkaisutyyppi	Ei sovellu
Tapahtuma	Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology - Bad Schandau, Saksa Kesto: 8 syysk. 2024 → 13 syysk. 2024 Konferenssinumero: 2024

Conference	Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology
Lyhennettä	GADEST
Maa/Alue	Saksa
Kaupunki	Bad Schandau
Ajanjakso	08/09/2024 → 13/09/2024

OtaNano
Rissanen, A. (Manager)
Aalto-yliopisto
Laitteistot/tilat: Facility
OtaNano Nanofab
Repo, P. (Manager) & Rissanen, A. (Other)
OtaNano
Laitteistot/tilat: Facility

Siteeraa tätä

@conference{198db724cf1049e98f361568cb3a831d,

title = "(oral talk) Characterization of electrically active defects in CZ-Si by photoluminescence imaging",

author = "Hele Savin and Katja Mustonen",

year = "2024",

month = sep,

day = "12",

language = "English",

note = "Conference on Gettering and Defect Engineering in Semiconductor Technology, GADEST ; Conference date: 08-09-2024 Through 13-09-2024",

}