Optimal signed rank tests in symmetric IC models

Pauliina Ilmonen, Davy Paindaveine

Tutkimustuotos: Artikkeli kirjassa/konferenssijulkaisussaConference article in proceedingsScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
OtsikkoProceedings of 17th European Young Statisticians Meeting (EYSM)
Sivut115-120
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA4 Artikkeli konferenssijulkaisussa
TapahtumaEuropean Young Statisticians Meeting - Lisbon, Portugali
Kesto: 5 syysk. 20119 syysk. 2011
Konferenssinumero: 17

Conference

ConferenceEuropean Young Statisticians Meeting
LyhennettäEYSM
Maa/AluePortugali
KaupunkiLisbon
Ajanjakso05/09/201109/09/2011

Siteeraa tätä