Optical properties of silicon nanocrystals in silica: Results of cutoff, m-line, and X- ray photoelectron spectroscopy

L. Khriachtchev, T. Nikitin, C.J. Oton, R. Velagapudi, J. Sainio, J. Lahtinen, S. Novikov

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuJournal of Applied Physics
Vuosikerta104
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2008
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • nanocrystals
  • silicon
  • XPS

Siteeraa tätä