Optical characterization of thin films using spectral reflectance and transmittance data at oblique angles of incidence

Farshid Manoocheri, Saulius Nevas, Antti Lamminpää, Erkki Ikonen

Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut68
TilaJulkaistu - 2005
OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

Julkaisusarja

NimiOptics Days 2005, Jyväskylä, Finland, 2005

Tutkimusalat

  • coatings
  • reflection
  • spectrometers and spectrocopic instrumentation
  • transmission

Siteeraa tätä