Optical characterization of thin films using high-accuracy oblique-incidence transmittance measurements

Saulius Nevas, F. Manoocheri, E. Ikonen, A. Tikhonravov, M. Kokarev, M. Trubetskov

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaEspoo
    Sivutpaper PO22
    TilaJulkaistu - 2003
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistu kehittämis- tai tutkimusraportti taikka -selvitys

    Julkaisusarja

    NimiNorthern Optics 2003, Espoo, June 16-18
    KustantajaHelsinki University of Technology

    Tutkimusalat

    • optical coatings
    • refractive index

    Siteeraa tätä