Optical and structural properties of SiOx films grown by molecular beam deposition: Effect of the Si concentration and annealing temperature

Timur Nikitin, Rama Velagapudi, Jani Sainio, Jouko Lahtinen, Markku Räsänen, Sergei Novikov, Leonid Khriachtchev

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

18 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
JulkaisuJournal of Applied Physics
Numero112
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2012
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • Silicon nanocrystals, Raman, X-ray photoelectron
  • spectroscopy

Siteeraa tätä