Optical and structural properties of silicon-rich silicon oxide films: Comparison of ion implantation and molecular beam deposition methods

T. Nikitin, K. Aitola, Serguei Novikov, M. Räsänen, R. Velagapudi, J. Sainio, J. Lahtinen, K. Mizohata, T. Ahlgren, L. Khriachtchev

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

11 Sitaatiot (Scopus)
AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut2176-2181
JulkaisuPHYSICA STATUS SOLIDI A: APPLICATIONS AND MATERIALS SCIENCE
Vuosikerta208
Numero9
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2011
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

Tutkimusalat

  • absorption
  • photoluminescence
  • Raman spectroscopy
  • silicon nanocrystals

Siteeraa tätä