Open-circuit potential as an indicator of damage of atomic layer deposited TiO2 on AISI 304 stainless steel

Tutkimustuotos: Lehtiartikkelivertaisarvioitu

Tutkijat

Organisaatiot

  • Osaka City University

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut641-647
Sivumäärä7
JulkaisuThin Solid Films
Vuosikerta517
Numero2
TilaJulkaistu - 28 marraskuuta 2008
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • AISI 304 stainless steel, atomic layer, TiO2

ID: 3586307