On the effects of temperature on the drop reliability of electronic component boards

Toni T. Mattila, Jue Li, Jorma K. Kivilahti

    Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

    15 Sitaatiot (Scopus)
    AlkuperäiskieliEnglanti
    Sivut165-179
    JulkaisuMicroelectronics Reliability
    Vuosikerta52
    Numero1
    DOI - pysyväislinkit
    TilaJulkaistu - 2012
    OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Siteeraa tätä