On lateral resolution in x-ray microanalysis

S. Nuortie, L. Palmu, E. Heikinheimo

    Tutkimustuotos: TyöpaperiWorking paperProfessional

    AlkuperäiskieliEnglanti
    JulkaisupaikkaGöteborg
    TilaJulkaistu - 1997
    OKM-julkaisutyyppiD4 Julkaistut kehitykset tai tutkimusraportit tai tutkimukset

    Julkaisusarja

    NimiScandem -97, Göteborg, Sweden, June 10-13, 1997
    KustantajaThe Scandinavian Society for electron microscopy

    Tutkimusalat

    • lateral resolution
    • microanalysis

    Siteeraa tätä