On cracking in thick GaN layers grown on sapphire substrates

M. G. Mynbaeva*, A. A. Sitnikova, A. N. Smirnov, K. D. Mynbaev, H. Lipsanen, A. Kremleva, D. A. Bauman, V. E. Bougrov, A. E. Romanov

*Tämän työn vastaava kirjoittaja

Tutkimustuotos: LehtiartikkeliArticleScientificvertaisarvioitu

Abstrakti

Self-organization mechanisms promoting elimination of cracks in thick GaN layers grown on sapphire substrates are considered on the basis of the experimental results on the fabrication of the layers by Hydride Vapor-Phase Epitaxy on MOCVD-grown GaN/Al2O3 templates. The obtained data support the supposition on the closure of tensile stress-related cracks via diffusion processes and demonstrate the strong contribution of bulk diffusion in addition to surface diffusion discussed earlier.

AlkuperäiskieliEnglanti
Sivut1-7
Sivumäärä7
JulkaisuMaterials Physics and Mechanics
Vuosikerta44
Numero1
DOI - pysyväislinkit
TilaJulkaistu - 2020
OKM-julkaisutyyppiA1 Alkuperäisartikkeli tieteellisessä aikakauslehdessä

Sormenjälki

Sukella tutkimusaiheisiin 'On cracking in thick GaN layers grown on sapphire substrates'. Ne muodostavat yhdessä ainutlaatuisen sormenjäljen.

Siteeraa tätä