Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 1843 |
Julkaisu | Applied Physics Letters |
Vuosikerta | 71 |
Tila | Julkaistu - 1997 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu |
Tutkimusalat
- compound semiconductor
- point defects
T. Laine, K. Saarinen, J. Mäkinen, P. Hautojärvi, C. Corbel, M.J. Ashwin, R.C. Newman
Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli › Article › Scientific › vertaisarvioitu
Alkuperäiskieli | Englanti |
---|---|
Sivut | 1843 |
Julkaisu | Applied Physics Letters |
Vuosikerta | 71 |
Tila | Julkaistu - 1997 |
OKM-julkaisutyyppi | A1 Julkaistu artikkeli, soviteltu |