Novel method for error limit determination in x-ray reflectivity analysis

Tutkimustuotos: Lehtiartikkeli

Tutkijat

Organisaatiot

Yksityiskohdat

AlkuperäiskieliEnglanti
Artikkeli115302
Sivut1-8
Sivumäärä8
JulkaisuJournal of Physics D: Applied Physics
Vuosikerta41
Numero11
TilaJulkaistu - 2008
OKM-julkaisutyyppiA1 Julkaistu artikkeli, soviteltu

    Tutkimusalat

  • genetic algorithm, x-ray reflectivity

ID: 3409874